新生儿脑发育不良的诊断方法是什么?由于婴幼儿期的精神和身体发育速度存在着个体差异，故除参考正常儿童发育标准外，还需结合详细的养育史和家庭环境，社会环境等因素，进行综合判断。那么，新生儿脑发育不良的诊断方法是什么?以下就是我们的小编针对脑发育不良的诊断方法给大家进行详细介绍。
新生儿脑发育不良的诊断方法是什么?
1、CT、MRI扫描：根据病变处密度增高这一现象，CT、MRI扫描可扫描出各层次具体的内部结构和脑组织的不同图像，进而进行诊断有无脑发育不全。
2、X射线头颅平片：为脑发育不全的诊断提供颅压增高及定位的证据。
3、超声波诊断：中线波向健侧移位。通过观察B超断层现象判断占位病变位置的大小，这也是脑发育不全的先进诊断方法。
4、放射性同位素脑扫描，可见同位素浓集现象。
5、检查有无浅表淋巴结肿大，并结合病史，进行具体神经系统诊断。
以上就是关于脑发育不良的诊断方法给大家的详细介绍了，相信大家对此已经有所了解了，希望能够给您带来帮助。